Salgado Cabezas, E. E., J. E. Toala Núñez, y H. F. Osorio Caiza. «Estrés tecnológico, El Efecto Secundario De La Ansiedad Profesional En El Campo Administrativo Y Como Afecta a La Cultura Corporativa». Código Científico Revista De Investigación, vol. 3, n.º 3, diciembre de 2022, pp. 251-62, https://revistacodigocientifico.itslosandes.net/index.php/1/article/view/51.